發布時間:2019-12-17
為有效提升產品良率，提升企業競爭力，海太半導體從兩方面著手努力提升三代DDR4生產質量。一是改善測試頭接觸類型，將PIN針型變更為片式插槽型，有效避免測試基板測試頭PIN針的重復損壞，保證產品收率。二是改善單個單品測試點位托板結構，通過減薄測試點位托板，使產品錫球充分接觸測試，從而提升初期測試產品識別率，最終提升產品收率。通過以上舉措，海太半導體DDR4產品良率已從96%提升至97.69%。